VMF-K
VMZ-S
iNEXIV VMA
VMZ-H3030
Software NEXIV
Resultados consistentes
La automatización reduce la variabilidad entre operadores.
INSPECCIÓN AUTOMÁTICA DE WAFERS
NEXIV VMZ-NWL200
Del portador al resultado, con un clic
Integra la metrología NEXIV con el wafer loader NWL200 para medir automáticamente wafers de 6 y 8 pulgadas, con trazabilidad y retorno rápido al proceso.
6″ e 8″Wafers en portador
1 cliqueOperación automática
3×Productividad
Quality 4.0Datos y trazabilidad
ECOSISTEMA NIKON NEXIV
Elija visualmente la tecnología
Navegue entre todas las soluciones de medición por visión sin perder el contexto de la gama.
CARACTERÍSTICAS DESTACADAS
Vea qué cambia en la medición
Características que conectan la tecnología con el resultado metrológico y la productividad.
Flujo eficiente
Transferencia, medición y retorno de datos integrados.
Operación visual
Seleccione chips directamente en el mapa gráfico del wafer.
CONFIGURACIONES
Asocie el sistema al tamaño de la pieza
| Modelo / función | Volumen / capacidad | Carga / aplicación |
|---|---|---|
| NEXIV | VMZ-S3020 | Type 2 / 3 / TZ |
| Wafer loader | NWL200 | 6″ e 8″ |
| Célula | 4125 × 3040 mm | Automática |
APLICACIONES
Dónde crea valor
Wafer-level packaging
Bumps y redistribución
Máscaras y MEMS
Control de proceso
Trazabilidad de producción
SELECCIÓN TÉCNICA NM3D
La configuración correcta empieza por la pieza
Envíe dimensión, tolerancia, material y cadencia. Recomendamos la óptica, el volumen, el software y la automatización adecuados.
