Resultados consistentes
La automatización reduce la variabilidad entre operadores.
INSPECCIÓN AUTOMÁTICA DE WAFERS
NEXIV VMZ-NWL200
Del portador al resultado, con un clic
Integra la metrología NEXIV con el wafer loader NWL200 para medir automáticamente wafers de 6 y 8 pulgadas, con trazabilidad y retorno rápido al proceso.
6″ e 8″Wafers en portador
1 cliqueOperación automática
3×Productividad
Quality 4.0Datos y trazabilidad
CARACTERÍSTICAS DESTACADAS
Vea qué cambia en la medición
Características que conectan la tecnología con el resultado metrológico y la productividad.
Flujo eficiente
Transferencia, medición y retorno de datos integrados.
Operación visual
Seleccione chips directamente en el mapa gráfico del wafer.
CONFIGURACIONES
Asocie el sistema al tamaño de la pieza
| Modelo / función | Volumen / capacidad | Carga / aplicación |
|---|---|---|
| NEXIV | VMZ-S3020 | Type 2 / 3 / TZ |
| Wafer loader | NWL200 | 6″ e 8″ |
| Célula | 4125 × 3040 mm | Automática |
APLICACIONES
Dónde crea valor
Wafer-level packaging
Bumps y redistribución
Máscaras y MEMS
Control de proceso
Trazabilidad de producción
SELECCIÓN TÉCNICA NM3D
La configuración correcta empieza por la pieza
Envíe dimensión, tolerancia, material y cadencia. Recomendamos la óptica, el volumen, el software y la automatización adecuados.
