VMF-K
VMZ-S
iNEXIV VMA
VMZ-H3030
Software NEXIV
Resultados consistentes
Automação reduz a variabilidade entre operadores.
INSPEÇÃO AUTOMÁTICA DE WAFERS
NEXIV VMZ-NWL200
Da cassete ao resultado, com um clique
Integra a metrologia NEXIV com o wafer loader NWL200 para medir automaticamente wafers de 6 e 8 polegadas, com rastreabilidade e retorno rápido ao processo.
6″ e 8″Wafers em carrier
1 cliqueOperação automática
3×Produtividade
Quality 4.0Dados e rastreabilidade
ECOSSISTEMA NIKON NEXIV
Escolha visualmente a tecnologia
Navegue entre todas as soluções de medição por visão sem perder o contexto da gama.
DESTAQUES DO PRODUTO
Veja o que muda na medição
Características que ligam a tecnologia ao resultado metrológico e à produtividade.
Fluxo eficiente
Transferência, medição e retorno de dados integrados.
Operação visual
Selecione chips diretamente no mapa gráfico do wafer.
CONFIGURAÇÕES
Associe o sistema à dimensão da peça
| Modelo / função | Volume / capacidade | Carga / aplicação |
|---|---|---|
| NEXIV | VMZ-S3020 | Type 2 / 3 / TZ |
| Wafer loader | NWL200 | 6″ e 8″ |
| Célula | 4125 × 3040 mm | Automática |
APLICAÇÕES
Onde cria valor
Wafer-level packaging
Bumps e redistribuição
Máscaras e MEMS
Controlo de processo
Rastreabilidade de produção
SELEÇÃO TÉCNICA NM3D
A configuração certa começa na peça
Envie a dimensão, tolerância, material e cadência. Recomendamos a óptica, o volume, o software e a automação adequados.
