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Serie NEXIV VMF-K – Sistema Avanzado de Medición Óptica Confocal

La serie NEXIV VMF-K, desarrollada por Nikon Metrology, es un sistema de medición confocal que combina recursos 2D y 3D de alta velocidad, ofreciendo una precisión excepcional para la miniaturización de componentes en las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión.
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La serie NEXIV VMF-K, desarrollada por Nikon Metrology, es un sistema de medición confocal que combina recursos 2D y 3D de alta velocidad, ofreciendo una precisión excepcional. Este sistema fue diseñado para soportar la miniaturización de componentes, siendo especialmente eficaz en las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión. Gracias a su tecnología confocal avanzada, permite realizar mediciones detalladas, incluso en muestras complejas y desafiantes, como materiales transparentes y superficies de alto contraste. Ver Vídeo

Contexto y reto

La miniaturización continua de componentes semiconductores y la creciente complejidad de las arquitecturas de dispositivos electrónicos exigen sistemas de medición capaces de realizar inspecciones precisas en escalas cada vez menores. Las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión necesitan soluciones que combinen velocidad, precisión y versatilidad para garantizar el control de calidad en procesos de producción cada vez más exigentes.

La solución o tecnología

La serie NEXIV VMF-K ofrece mediciones rápidas al combinar funcionalidades de análisis 2D y de altura en un único sistema. Con un rendimiento 1,5 veces superior a los modelos anteriores, este dispositivo permite mediciones simultáneas en 2D y altura, lo que reduce significativamente el tiempo de medición sin comprometer la precisión. El sistema se destaca por su capacidad de medir una amplia gama de componentes, incluyendo dispositivos semiconductores, como placas de sonda e hilos de conexión. Esta flexibilidad convierte al sistema en una herramienta esencial para el control de calidad en el sector de semiconductores, consolidando varias funciones de medición en un único equipo. La serie está equipada con una lente objetivo de 45x, ideal para mediciones a nivel de wafer (WLP). Esta ampliación elevada es fundamental para la inspección detallada de estructuras ultrafinas, especialmente importante a medida que los componentes semiconductores continúan reduciéndose en tamaño. El sistema permite medir con exactitud dimensiones extensas, superando el límite del campo de visión, mientras mantiene una precisión constante. Esta funcionalidad es esencial para la medición de dispositivos semiconductores, que demandan alta precisión posicional y mediciones precisas en el sistema de coordenadas en escalas mayores. El sistema óptico confocal avanzado asegura mediciones estables, incluso en muestras con gran contraste. Esta capacidad garantiza imágenes claras y precisas, incluso cuando las muestras presentan variaciones significativas de brillo o reflectividad. Modelos disponibles: NEXIV VMF-K3040: Sistema de medición avanzado, ideal para la medición automática de componentes con alta precisión. Posee un área de medición de 300 mm (X), 400 mm (Y) y 200 mm (Z), ofreciendo un campo de visión amplio. El sistema confocal avanzado permite capturar imágenes detalladas y precisas de diversos materiales y objetos, apoyando la miniaturización y aumentando la productividad en las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión. Descargar PDF NEXIV VMF-K6555: Sistema de medición sofisticado, ideal para la medición automática de componentes con alta precisión. Con un área de medición de 650 mm (X), 550 mm (Y) y 200 mm (Z), ofrece un campo de visión extenso. Su sistema confocal avanzado garantiza la captura de imágenes detalladas y precisas de varios materiales y objetos. Este modelo apoya la miniaturización y aumenta la productividad, siendo esencial para las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión. Descargar PDF

Aplicaciones industriales

Empaquetado Avanzado: La serie NEXIV VMF-K permite un análisis simultáneo de 2D y altura dentro de un único campo de visión, ideal para los procesos de empaquetado avanzado. Equipado con una lente objetivo de 45x, es capaz de realizar mediciones precisas en escalas inferiores a 2 μm, respondiendo a los desafíos impuestos por las arquitecturas cada vez más complejas de los dispositivos semiconductores. Inspección de Tarjeta de Sonda: La serie NEXIV VMF-K mejoró significativamente la tasa de transferencia de medición de la placa de sonda, aumentando en 1,5 veces la velocidad en comparación con versiones anteriores. Además, la capacidad de realizar mediciones estables más allá del campo de visión facilita el proceso de inspección, garantizando un control de calidad preciso y eficiente. Inspección de Wafer: La serie NEXIV VMF-K utiliza óptica confocal avanzada, permitiendo la inspección de superficies con reflectividad variable, esencial para el análisis de wafers semiconductores. La lente objetivo de 45x captura detalles minuciosos, mientras que la medición simultánea de 2D y altura optimiza la eficiencia de la inspección, reduciendo el tiempo empleado en cada ciclo. Producción de Sustrato: Diseñada para flujos de trabajo de inspección de sustratos, la serie NEXIV VMF-K garantiza mediciones estables, incluso en muestras complejas, como materiales transparentes y de alto contraste. Con una digitalización 1,5 veces más rápida que las generaciones anteriores, este sistema consigue mantener la precisión exigida para los más altos estándares de la industria de producción de sustratos.

Resultados y beneficios

La serie NEXIV VMF-K permite que las empresas realicen mediciones rápidas y precisas, contribuyendo a mejorar el rendimiento y la eficiencia de las operaciones de medición y control de calidad. El sistema simplifica los procesos de inspección al consolidar varias funciones de medición en un único equipo, optimizando procesos de producción y asegurando la calidad de los productos finales. La velocidad de medición 1,5 veces superior a los modelos anteriores reduce significativamente el tiempo de ciclo sin comprometer la precisión, esencial para industrias que trabajan con miniaturización y empaquetado de componentes.

Cómo puede ayudar NM3D

NM3D Ibérica ofrece un valor significativo a sus clientes al proporcionar no solo la tecnología avanzada de Nikon Metrology, sino también un soporte técnico especializado localmente. Nuestro equipo está preparado para proporcionar servicios de calibración, formación continua y asistencia técnica, garantizando que los equipos se implementen correctamente y mantengan un rendimiento óptimo a lo largo del tiempo. Con la Serie NEXIV VMF-K, NM3D Ibérica permite que las empresas de la Península Ibérica alcancen nuevos niveles de eficiencia y precisión en sus procesos de medición, proporcionando soluciones ideales para mejorar el control de calidad y optimizar la producción de componentes electrónicos y semiconductores.

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