Série NEXIV VMF-K – Sistema Avançado de Medição Óptica Confocal

19 de março de 2025 por
Série NEXIV VMF-K – Sistema Avançado de Medição Óptica Confocal
Carolina Carvalho

A série NEXIV VMF-K, desenvolvida pela Nikon Metrology, é um sistema de medição confocal que combina recursos 2D e 3D de alta velocidade, oferecendo uma precisão excecional.  Este sistema foi projetado para suportar a miniaturização de componentes, sendo especialmente eficaz nas indústrias de semicondutores e engenharia de precisão. Graças à sua tecnologia confocal avançada, permite realizar medições detalhadas, mesmo em amostras complexas e desafiadoras, como materiais transparentes e superfícies de alto contraste.

Na NM3D Ibérica, temos o prazer de disponibilizar este sistema avançado aos nossos clientes, proporcionando uma solução que otimiza processos de produção e assegura a qualidade dos produtos finais. A série NEXIV VMF-K permite que as empresas realizem medições rápidas e precisas, contribuindo para melhorar o rendimento e a eficiência das operações de medição e controlo de qualidade.

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Main Features of the NEXIV VMF-K Series

Medições mais rápidas e eficazes

A série NEXIV VMF-K oferece medições rápidas ao combinar funcionalidades de análise 2D e de altura num único sistema. Com um desempenho 1,5 vezes superior aos modelos anteriores, este dispositivo permite medições simultâneas em 2D e altura, o que reduz significativamente o tempo de medição sem comprometer a precisão.

Versatilidade em diversas aplicações

A série NEXIV VMF-K destaca-se pela sua capacidade de medir uma vasta gama de componentes, incluindo dispositivos semicondutores, como placas de sonda e fios de ligação. Esta flexibilidade torna o sistema uma ferramenta essencial para o controlo de qualidade no setor dos semicondutores, consolidando várias funções de medição num único equipamento, o que simplifica os processos de inspeção.

Apoio especializado para a indústria de semicondutores

A série NEXIV VMF-K está equipada com uma lente objetiva de 45x, ideal para medições em nível de wafer (WLP). Esta ampliação elevada é fundamental para a inspeção detalhada de estruturas ultrafinas, especialmente importante à medida que os componentes semicondutores continuam a reduzir-se em tamanho.

Capacidade de Medição de Longa Dimensão

A série NEXIV VMF-K permite medir com exatidão dimensões extensas, superando o limite do campo de visão, enquanto mantém uma precisão constante. Esta funcionalidade é essencial para a medição de dispositivos semicondutores, que demandam alta precisão posicional e medições precisas no sistema de coordenadas em escalas maiores.

Medições estáveis em superfícies de alto contraste

O sistema óptico confocal avançado da série NEXIV VMF-K assegura medições estáveis, mesmo em amostras com grande contraste. Esta capacidade garante imagens claras e precisas, mesmo quando as amostras apresentam variações significativas de brilho ou refletividade.

Medição de grandes dimensões com alta precisão

A série NEXIV VMF-K permite realizar medições precisas em componentes cujas dimensões excedem o campo de visão do dispositivo, mantendo sempre a precisão. Este recurso é essencial para medições de dispositivos semicondutores que requerem grande precisão em dimensões alargadas e para medições no sistema de coordenadas.


Models of the NEXIV VMF-K Series

NEXIV VMF-K3040

O NEXIV VMF-K3040 da Nikon é um sistema de medição avançado, ideal para a medição automática de componentes com alta precisão. Possui uma área de medição de 300 mm (X), 400 mm (Y) e 200 mm (Z), oferecendo um campo de visão amplo. O sistema confocal avançado permite capturar imagens detalhadas e precisas de diversos materiais e objetos, apoiando a miniaturização e aumentando a produtividade nas indústrias de semicondutores e engenharia de precisão.


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NEXIV VMF-K6555

O NEXIV VMF-K6555 da Nikon é um sistema de medição sofisticado, ideal para a medição automática de componentes com alta precisão. Com uma área de medição de 650 mm (X), 550 mm (Y) e 200 mm (Z), oferece um campo de visão extenso. O seu sistema confocal avançado garante a captura de imagens detalhadas e precisas de vários materiais e objetos. Este modelo apoia a miniaturização e aumenta a produtividade, sendo essencial para as indústrias de semicondutores e engenharia de precisão.


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Aplicações Industriais da Série NEXIV VMF-K

Inspeção do Cartão de Sonda
 

A série NEXIV VMF-K melhorou significativamente a taxa de transferência de medição da placa de sonda, aumentando em 1,5 vezes a velocidade em comparação com versões anteriores. Além disso, a capacidade de realizar medições estáveis além do campo de visão facilita o processo de inspeção, garantindo um controle de qualidade preciso e eficiente. A NM3D Ibérica aplica esta tecnologia para simplificar e acelerar as inspeções, mantendo elevados níveis de precisão.

Inspeção de Wafer com Precisão Superior

A série NEXIV VMF-K utiliza óptica confocal avançada, permitindo a inspeção de superfícies com refletividade variável, essencial para a análise de wafers semicondutores. A lente objetiva de 45x captura detalhes minuciosos, enquanto a medição simultânea de 2D e altura otimiza a eficiência da inspeção, reduzindo o tempo gasto em cada ciclo. Esta tecnologia é crucial para garantir a qualidade e precisão na produção de semicondutores.

Produção de Substrato Eficiente e Precisão nas Medições

Projetada para fluxos de trabalho de inspeção de substratos, a série NEXIV VMF-K garante medições estáveis, mesmo em amostras complexas, como materiais transparentes e de alto contraste. Com uma digitalização 1,5 vezes mais rápida do que as gerações anteriores, este sistema consegue manter a precisão exigida para os mais altos padrões da indústria de produção de substratos. A NM3D Ibérica assegura que os processos de produção sejam realizados de forma rápida, eficiente e com precisão absoluta.


Empacotamento Avançado com a Série NEXIV VMF-K

A série NEXIV VMF-K permite uma análise simultânea de 2D e altura dentro de um único campo de visão, ideal para os processos de empacotamento avançado. Equipado com uma lente objetiva de 45x, é capaz de realizar medições precisas em escalas abaixo de 2 μm, respondendo aos desafios impostos pelas arquiteturas cada vez mais complexas dos dispositivos semicondutores. Este sistema é uma excelente opção para indústrias que lidam com miniaturização e empacotamento de componentes.


Apoio da NM3D Ibérica

A NM3D Ibérica oferece um valor significativo aos seus clientes ao disponibilizar não apenas a tecnologia avançada da Nikon Metrology, mas também um suporte técnico especializado localmente. A nossa equipa está pronta para fornecer serviços de calibração, formação contínua e assistência técnica, garantindo que os equipamentos sejam implementados corretamente e mantenham um desempenho ideal ao longo do tempo.

Com a Série NEXIV VMF-K, a NM3D Ibérica permite que as empresas da Península Ibérica atinjam novos níveis de eficiência e precisão nos seus processos de medição, proporcionando soluções ideais para melhorar o controlo de qualidade e optimizar a produção de componentes electrónicos e semicondutores.

Entre em contato conosco para saber como podemos ajudar a otimizar sua produção com soluções avançadas de medição.

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