Série NEXIV VMF-K – Sistema Avançado de Medição Óptica Confocal

A miniaturização contínua de componentes semicondutores e a crescente complexidade das arquiteturas de dispositivos eletrónicos exigem sistemas de medição capazes de realizar inspeções precisas em escalas cada vez menores. As indústrias de semicondutores e engenharia de precisão necessitam de soluções que combinem velocidade, precisão e versatilidade para garantir o controlo de qualidade em processos de produção cada vez mais exigentes.

A série NEXIV VMF-K oferece medições rápidas ao combinar funcionalidades de análise 2D e de altura num único sistema. Com um desempenho 1,5 vezes superior aos modelos anteriores, este dispositivo permite medições simultâneas em 2D e altura, o que reduz significativamente o tempo de medição sem comprometer a precisão. O sistema destaca-se pela sua capacidade de medir uma vasta gama de componentes, incluindo dispositivos semicondutores, como placas de sonda e fios de ligação. Esta flexibilidade torna o sistema uma ferramenta essencial para o controlo de qualidade no setor dos semicondutores, consolidando várias funções de medição num único equipamento. A série está equipada com uma lente objetiva de 45x, ideal para medições em nível de wafer (WLP). Esta ampliação elevada é fundamental para a inspeção detalhada de estruturas ultrafinas, especialmente importante à medida que os componentes semicondutores continuam a reduzir-se em tamanho. O sistema permite medir com exatidão dimensões extensas, superando o limite do campo de visão, enquanto mantém uma precisão constante. Esta funcionalidade é essencial para a medição de dispositivos semicondutores, que demandam alta precisão posicional e medições precisas no sistema de coordenadas em escalas maiores. O sistema óptico confocal avançado assegura medições estáveis, mesmo em amostras com grande contraste. Esta capacidade garante imagens claras e precisas, mesmo quando as amostras apresentam variações significativas de brilho ou refletividade. Modelos disponíveis: NEXIV VMF-K3040: Sistema de medição avançado, ideal para a medição automática de componentes com alta precisão. Possui uma área de medição de 300 mm (X), 400 mm (Y) e 200 mm (Z), oferecendo um campo de visão amplo. O sistema confocal avançado permite capturar imagens detalhadas e precisas de diversos materiais e objetos, apoiando a miniaturização e aumentando a produtividade nas indústrias de semicondutores e engenharia de precisão. Download PDF NEXIV VMF-K6555: Sistema de medição sofisticado, ideal para a medição automática de componentes com alta precisão. Com uma área de medição de 650 mm (X), 550 mm (Y) e 200 mm (Z), oferece um campo de visão extenso. O seu sistema confocal avançado garante a captura de imagens detalhadas e precisas de vários materiais e objetos. Este modelo apoia a miniaturização e aumenta a produtividade, sendo essencial para as indústrias de semicondutores e engenharia de precisão. Download PDF

A série NEXIV VMF-K permite que as empresas realizem medições rápidas e precisas, contribuindo para melhorar o rendimento e a eficiência das operações de medição e controlo de qualidade. O sistema simplifica os processos de inspeção ao consolidar várias funções de medição num único equipamento, otimizando processos de produção e assegurando a qualidade dos produtos finais. A velocidade de medição 1,5 vezes superior aos modelos anteriores reduz significativamente o tempo de ciclo sem comprometer a precisão, essencial para indústrias que lidam com miniaturização e empacotamento de componentes.

A NM3D Ibérica oferece um valor significativo aos seus clientes ao disponibilizar não apenas a tecnologia avançada da Nikon Metrology, mas também um suporte técnico especializado localmente. A nossa equipa está pronta para fornecer serviços de calibração, formação contínua e assistência técnica, garantindo que os equipamentos sejam implementados corretamente e mantenham um desempenho ideal ao longo do tempo. Com a Série NEXIV VMF-K, a NM3D Ibérica permite que as empresas da Península Ibérica atinjam novos níveis de eficiência e precisão nos seus processos de medição, proporcionando soluções ideais para melhorar o controlo de qualidade e optimizar a produção de componentes electrónicos e semicondutores.