La serie NEXIV VMF-K, desarrollada por Nikon Metrology, es un sistema de medición confocal que combina capacidades 2D y 3D de alta velocidad, ofreciendo una precisión excepcional. Este sistema fue diseñado para soportar la miniaturización de componentes, siendo especialmente eficaz en las industrias de semiconductores y la ingeniería de precisión. Gracias a su tecnología confocal avanzada, permite realizar mediciones detalladas, incluso en muestras complejas y desafiantes, como materiales transparentes y superficies de alto contraste.
En NM3D Ibérica, tenemos el placer de ofrecer este sistema avanzado a nuestros clientes, proporcionando una solución que optimiza los procesos de producción y asegura la calidad de los productos finales. La serie NEXIV VMF-K permite que las empresas realicen mediciones rápidas y precisas, contribuyendo a mejorar el rendimiento y la eficiencia en las operaciones de medición y control de calidad.
Main Features of the NEXIV VMF-K Series
Mediciones más rápidas y eficaces
La serie NEXIV VMF-K ofrece mediciones rápidas al combinar funcionalidades de análisis 2D y de altura en un solo sistema. Con un rendimiento 1,5 veces superior a los modelos anteriores, este dispositivo permite mediciones simultáneas en 2D y altura, lo que reduce significativamente el tiempo de medición sin comprometer la precisión.
Versatilidad en diversas aplicaciones
La serie NEXIV VMF-K se destaca por su capacidad para medir una amplia gama de componentes, incluidos dispositivos semiconductores, como placas de sonda y cables de unión. Esta flexibilidad convierte al sistema en una herramienta esencial para el control de calidad en la industria de semiconductores, consolidando múltiples funciones de medición en un solo equipo, lo que simplifica los procesos de inspección.
Apoyo especializado para la industria de semiconductores
La serie NEXIV VMF-K está equipada con una lente objetiva de 45x, ideal para mediciones a nivel de oblea (WLP). Esta gran ampliación es fundamental para la inspección detallada de estructuras ultradelgadas, especialmente importante a medida que los componentes semiconductores continúan reduciéndose en tamaño.
Capacidad de Medición de Larga Dimensión
La serie NEXIV VMF-K permite medir con precisión dimensiones extensas, superando el límite del campo de visión, mientras mantiene una precisión constante. Esta funcionalidad es esencial para la medición de dispositivos semiconductores, que requieren alta precisión posicional y mediciones precisas en el sistema de coordenadas a escalas mayores.
Mediciones estables en superficies de alto contraste
El avanzado sistema óptico confocal de la serie NEXIV VMF-K garantiza mediciones estables incluso en muestras con alto contraste. Esta capacidad asegura imágenes claras y precisas, incluso cuando las muestras presentan variaciones significativas de brillo o reflectividad.
Medición de grandes dimensiones con alta precisión
La serie NEXIV VMF-K permite realizar mediciones precisas en componentes cuyas dimensiones exceden el campo de visión del dispositivo, manteniendo siempre la precisión. Esta característica es crucial para mediciones de dispositivos semiconductores que requieren alta precisión en dimensiones ampliadas y para mediciones en el sistema de coordenadas.
Models of the NEXIV VMF-K Series
NEXIV VMF-K3040
El NEXIV VMF-K3040 de Nikon es un sistema de medición avanzado que es ideal para la medición automática de componentes con alta precisión. Tiene un área de medición de 300 mm (X), 400 mm (Y) y 200 mm (Z), lo que ofrece un amplio campo de visión. El avanzado sistema confocal le permite capturar imágenes detalladas y precisas de diversos materiales y objetos, lo que respalda la miniaturización y aumenta la productividad en las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión.
NEXIV VMF-K6555
El NEXIV VMF-K6555 de Nikon es un sofisticado sistema de medición ideal para la medición automática de componentes con alta precisión. Con un área de medición de 650 mm (X), 550 mm (Y) y 200 mm (Z), ofrece un amplio campo de visión. Su avanzado sistema confocal garantiza la captura de imágenes detalladas y precisas de diversos materiales y objetos. Este modelo admite la miniaturización y aumenta la productividad, por lo que es esencial para las industrias de semiconductores e ingeniería de precisión.
Aplicaciones Industriales de la Serie NEXIV VMF-K
Inspección de la Tarjeta de Sonda
La serie NEXIV VMF-K ha mejorado significativamente la velocidad de medición de las tarjetas de sonda, aumentando en 1,5 veces la rapidez en comparación con versiones anteriores. Además, la capacidad de realizar mediciones estables más allá del campo de visión facilita el proceso de inspección, garantizando un control de calidad preciso y eficiente. NM3D Ibérica aplica esta tecnología para simplificar y agilizar las inspecciones, manteniendo altos niveles de precisión.
Inspección de Obleas con Precisión Superior
La serie NEXIV VMF-K utiliza óptica confocal avanzada, lo que permite la inspección de superficies con reflectividad variable, esencial para el análisis de obleas semiconductoras. La lente objetiva de 45x captura detalles minuciosos, mientras que la medición simultánea de 2D y altura optimiza la eficiencia de la inspección, reduciendo el tiempo empleado en cada ciclo. Esta tecnología es crucial para garantizar la calidad y precisión en la producción de semiconductores.
Producción Eficiente de Sustratos y Precisión en las Mediciones
Diseñada para los flujos de trabajo de inspección de sustratos, la serie NEXIV VMF-K garantiza mediciones estables incluso en muestras complejas, como materiales transparentes y de alto contraste. Con un escaneo 1,5 veces más rápido que las generaciones anteriores, este sistema mantiene la precisión requerida para los más altos estándares de la industria de producción de sustratos. NM3D Ibérica asegura que los procesos de producción se lleven a cabo de manera rápida, eficiente y con una precisión absoluta.
Empaquetado Avanzado con la Serie NEXIV VMF-K
La serie NEXIV VMF-K permite un análisis simultáneo de 2D y altura dentro de un solo campo de visión, lo que la hace ideal para los procesos de empaquetado avanzado. Equipada con una lente objetiva de 45x, es capaz de realizar mediciones precisas en escalas inferiores a 2 μm, respondiendo a los desafíos que plantean las arquitecturas cada vez más complejas de los dispositivos semiconductores. Este sistema es una excelente opción para las industrias que trabajan con la miniaturización y el empaquetado de componentes.
Soporte de NM3D Ibérica
NM3D Ibérica ofrece un valor significativo a sus clientes al proporcionar no solo la tecnología avanzada de Nikon Metrology, sino también un soporte técnico especializado a nivel local. Nuestro equipo está preparado para ofrecer servicios de calibración, formación continua y asistencia técnica, garantizando que los equipos se implementen correctamente y mantengan un rendimiento óptimo a lo largo del tiempo.
Con la Serie NEXIV VMF-K, NM3D Ibérica permite a las empresas de la Península Ibérica alcanzar nuevos niveles de eficiencia y precisión en sus procesos de medición, proporcionando soluciones ideales para mejorar el control de calidad y optimizar la producción de componentes electrónicos y semiconductores.
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