Nikon anuncia mejoras avanzadas en la serie XT V de sistemas de rayos X y CT para inspección no destructiva

Entre las principales novedades destaca el High Contrast Filter 2.0, un nuevo filtro de imagen que mejora significativamente el contraste y la nitidez, permitiendo la detección clara de defectos internos incluso en muestras con geometrías complejas o densidades variadas.

A nivel de hardware, Nikon ha introducido varias mejoras que amplían las capacidades de los sistemas XT V:

• Heavy Duty Tray, una plataforma reforzada que soporta muestras mayores y más pesadas, ideal para inspección por lotes y aumento de la productividad;
• Diamond Window, que mejora el contraste de la imagen en toda la gama de operación, especialmente eficaz en materiales de baja densidad o combinaciones multimaterial;
• Low-Dose Collimator, que reduce la exposición a la radiación, protegiendo componentes electrónicos sensibles;
• ESD Safety Upgrade, que garantiza inspecciones seguras de dispositivos sensibles a descargas electrostáticas, en conformidad con normas internacionales;
• High Magnification CT Arm, diseñado para capturar detalles extremadamente finos en muestras de pequeñas dimensiones.

Con estas mejoras, la serie XT V continúa destacándose en aplicaciones como PCBs, BGAs, semiconductores, microelectrónica y componentes de alta densidad, manteniendo las reconocidas fuentes de rayos X microfoco Xi de Nikon y capacidades avanzadas de procesamiento de imagen.

Para fabricantes y laboratorios de control de calidad, estas actualizaciones se traducen en mayor fiabilidad, eficiencia y flexibilidad, reduciendo riesgos, mejorando la detección de defectos y apoyando decisiones críticas a lo largo del proceso productivo.

Como partner e integrador de soluciones Nikon, NM3D IBERICA pone a disposición estas tecnologías avanzadas de inspección por rayos X y CT, apoyando a sus clientes desde la selección del sistema hasta la implementación, formación y soporte técnico.