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Nikon anuncia melhorias avançadas na série XT V de sistemas de raios X e CT para inspeção não destrutiva

A Nikon Corporation anunciou novas melhorias tecnológicas para a série XT V de sistemas de raios X e tomografia computorizada (CT), consolidando esta plataforma como referência na inspeção não destrutiva de componentes eletrónicos e industriais.
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A Nikon Corporation anunciou um conjunto de novas melhorias tecnológicas para a sua série XT V de sistemas de raios X e tomografia computorizada (CT), consolidando esta plataforma como uma referência na inspeção não destrutiva (NDI) de componentes eletrónicos e industriais.

Estas atualizações, agora disponíveis como opções de upgrade de software e hardware, permitem aos utilizadores obter imagens de maior qualidade, maior flexibilidade de inspeção e proteção acrescida para componentes sensíveis, respondendo às exigências crescentes da indústria eletrónica e de alta precisão.

A solução ou tecnologia

Entre as principais novidades destaca-se o High Contrast Filter 2.0, um novo filtro de imagem que melhora significativamente o contraste e a nitidez, permitindo a deteção clara de defeitos internos mesmo em amostras com geometrias complexas ou densidades variadas.

Ao nível de hardware, a Nikon introduziu várias melhorias que ampliam as capacidades dos sistemas XT V:

  • Heavy Duty Tray, uma plataforma reforçada que suporta amostras maiores e mais pesadas, ideal para inspeção por lotes e aumento da produtividade;
  • Diamond Window, que melhora o contraste da imagem em toda a gama de operação, especialmente eficaz em materiais de baixa densidade ou combinações multimaterial;
  • Low-Dose Collimator, que reduz a exposição à radiação, protegendo componentes eletrónicos sensíveis;
  • ESD Safety Upgrade, que garante inspeções seguras de dispositivos sensíveis a descargas eletrostáticas, em conformidade com normas internacionais;
  • High Magnification CT Arm, concebido para capturar detalhes extremamente finos em amostras de pequenas dimensões.

Aplicações industriais

Com estas melhorias, a série XT V continua a destacar-se em aplicações como PCBs, BGAs, semicondutores, microeletrónica e componentes de alta densidade, mantendo as reconhecidas fontes de raios X microfoco Xi da Nikon e capacidades avançadas de processamento de imagem.

Resultados e benefícios

Para fabricantes e laboratórios de controlo de qualidade, estas atualizações traduzem-se em maior fiabilidade, eficiência e flexibilidade, reduzindo riscos, melhorando a deteção de defeitos e apoiando decisões críticas ao longo do processo produtivo.

Como a NM3D pode ajudar

Enquanto parceiro e integrador de soluções Nikon, a NM3D IBERICA disponibiliza estas tecnologias avançadas de inspeção por raios X e CT, apoiando os seus clientes desde a seleção do sistema até à implementação, formação e suporte técnico.

Quer avaliar esta solução na sua aplicação?

Para saber como as novas melhorias da série XT V podem otimizar os seus processos de inspeção e controlo de qualidade, fale com a equipa da NM3D IBERICA.

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