INSPEÇÃO RX DE ELETRÓNICA

Encontre defeitos escondidos antes que cheguem ao cliente

Inspeção 2D, 2.5D e CT para PCB, BGA, semicondutores, conectores e montagem eletrónica — do laboratório à linha SMT.

Encontre defeitos escondidos antes que cheguem ao cliente
Inspeção não destrutivaVeja o interior sem cortar a peça
Da investigação à produçãoConfigurações manuais, automáticas e inline
Nikon + UnicompAmplitude de gamas e aplicações
Apoio especializado NM3DSeleção, instalação, formação e pós-venda

GAMA RX PARA ELETRÓNICA

Da análise manual à inspeção inline

Soluções Nikon e Unicomp para falhas de soldadura, vazios, componentes desalinhados, BGA, chips e contagem de bobines.

Nikon aporta imagem premium e CT avançada; Unicomp cobre uma gama ampla de sistemas offline, inline e contagem RX.
PDF — XT V 130C
Ver vídeo — XT V 130C
PDF — XT V 160
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PDF — AX 7900
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PDF — AX 8200 MAX
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AX 8300 S / Si
Unicomp

AX 8300 S / Si

Plataforma de elevada ampliação para inspeção detalhada de PCBA e semicondutores.

MicrofocusPCBA
PDF — AX 8300 S / Si
AX 8800 E
Unicomp

AX 8800 E

Inspeção avançada com manipulação flexível para amostras e conjuntos de maior dimensão.

FlexívelEletrónica
PDF — AX 8800 E
AX 9100 / MAX / VS
Unicomp

AX 9100 / MAX / VS

Família para elevada resolução, grande ampliação e inspeção de defeitos exigentes.

Alta ampliaçãoVoids / solda
PDF — AX 9100 / MAX / VS
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PDF — AX 9500
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PDF — CX 3000
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PDF — CX 7000 L
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LX 2000
Unicomp

LX 2000

Inspeção RX inline para controlo automático de componentes em produção.

Inline100% inspeção
PDF — LX 2000
PDF — LX 9200
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AX 8500
Unicomp

AX 8500

RX de 110 kV para leadframes, semicondutores, eletrónica de potência e inspeção de alta precisão.

110 kVLeadframe
AX 8300 MAX
Unicomp

AX 8300 MAX

Inspeção de MOSFET, cerâmicos, BGA e PCBA com visualização avançada de vazios e fissuras.

MOSFETIHDR

DA IMAGEM À DECISÃO

Recursos para eletrónica de alta densidade

PCB Analysis Suite

Medição automática de BGA, wire bonds, PTH, PoP e decisão OK/NOK.

Ângulo oblíquo e rotação 360°

Mantenha a região de interesse visível mesmo em grandes ampliações.

High Contrast Filter

Revele simultaneamente detalhes de alto e baixo contraste.

Proteção da amostra

Anti-colisão, baixa dose e opções ESD para dispositivos sensíveis.

ESCOLHA ORIENTADA PELA APLICAÇÃO

Compare pela dimensão da placa, resolução e cadência

  • Peça e material
    Dimensão, densidade e geometria
  • Defeito crítico
    Poros, fissuras, soldaduras ou montagem
  • Resolução e penetração
    Fonte, potência e detetor adequados
  • Cadência e automação
    Laboratório, at-line ou inline

Não precisa de escolher sozinho

Envie-nos a peça, o defeito que pretende detetar e o ritmo de inspeção. A equipa NM3D recomenda a tecnologia, fonte, detetor e software adequados.

Pedir recomendação

Valide uma amostra antes de decidir

Envie-nos uma placa ou componente e o defeito alvo para definirmos a configuração mais eficaz.

Solicitar demonstração ou proposta