Nikon anuncia importantes mejoras en la serie XT V de sistemas de rayos X y tomografía computarizada

26 de enero de 2026 por
Nikon anuncia importantes mejoras en la serie XT V de sistemas de rayos X y tomografía computarizada
Ruben Rodrigues

Nikon refuerza la serie XT V con nuevas mejoras en sistemas de rayos X y CT para inspección industrial

Nikon Corporation ha anunciado un conjunto de nuevas mejoras tecnológicas para su serie XT V de sistemas de rayos X y tomografía computarizada (CT), consolidando esta plataforma como una referencia en la inspección no destructiva (NDI) de componentes electrónicos e industriales.

Estas actualizaciones, disponibles como opciones de upgrade de software y hardware, permiten a los usuarios obtener imágenes de mayor calidad, mayor flexibilidad de inspección y una protección mejorada para componentes sensibles, respondiendo a las crecientes exigencias de la industria electrónica y de alta precisión.

Más rendimiento, mayor precisión

Entre las principales novedades destaca el High Contrast Filter 2.0, un nuevo filtro de imagen que mejora significativamente el contraste y la nitidez, permitiendo una detección clara de defectos internos incluso en muestras con geometrías complejas o densidades variables.

A nivel de hardware, Nikon ha introducido varias mejoras que amplían las capacidades de los sistemas XT V:

  • Heavy Duty Tray, una plataforma reforzada capaz de soportar muestras más grandes y pesadas, ideal para inspección por lotes y aumento de la productividad;
  • Diamond Window, que mejora el contraste de imagen en todo el rango operativo, especialmente eficaz en materiales de baja densidad o combinaciones multimaterial;
  • Low-Dose Collimator, que reduce la exposición a la radiación y protege componentes electrónicos sensibles;
  • ESD Safety Upgrade, que garantiza inspecciones seguras de dispositivos sensibles a descargas electrostáticas, cumpliendo con normativas internacionales;
  • High Magnification CT Arm, diseñado para capturar detalles extremadamente finos en muestras de pequeñas dimensiones.

Valor añadido para la industria

Con estas mejoras, la serie XT V continúa destacando en aplicaciones como PCBs, BGAs, semiconductores, microelectrónica y componentes de alta densidad, manteniendo las reconocidas fuentes de rayos X microfoco Xi de Nikon y avanzadas capacidades de procesamiento de imagen.

Para fabricantes y laboratorios de control de calidad, estas actualizaciones se traducen en mayor fiabilidad, eficiencia y flexibilidad, reduciendo riesgos, mejorando la detección de defectos y apoyando decisiones críticas a lo largo del proceso productivo.

NM3D IBERICA – Tecnología Nikon al servicio de la industria

Como partner e integrador de soluciones Nikon, NM3D IBERICA pone a disposición estas tecnologías avanzadas de inspección por rayos X y CT, acompañando a sus clientes desde la selección del sistema hasta la implantación, formación y soporte técnico.

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