LK METROLOGY · SCANNERS LASER PARA CMM
Transforme a sua CMM num sistema de digitalização 3D de alta produtividade
Capture superfícies completas, geometrias complexas e detalhes finos sem contacto, em CMM novas ou existentes.
EXPLORE O ECOSSISTEMA CMM
Escolha visualmente a tecnologia que procura
Navegue entre todas as tecnologias de máquinas de medição por coordenadas.
GAMA ATUAL LK METROLOGY
Escolha pelo equilíbrio entre precisão, campo de visão e produtividade
O L100 foi substituído pelo L100NX. A gama atual utiliza comunicação Ethernet nas novas configurações.
Compare a gama por aplicação
| Scanner | Ideal para | Diferencial |
|---|---|---|
| L100NX | Superfícies extensas e inspeção peça-CAD | Até 530.000 pontos/s e laser azul |
| LC15DX | Geometrias pequenas e alta precisão | Erro de apalpação a partir de 1,9 µm |
| XC65DX / LS | Carroçarias, furos, pernos e zonas difíceis | Três linhas laser e versão long stand-off |
| SLK25 VIVID | Peças frágeis, escuras, brilhantes ou transparentes | Alta resolução e tecnologia VIVID |
O scanner deve acompanhar a aplicação
Material, acabamento, detalhe mínimo, tolerância, dimensão e tempo de ciclo determinam a solução mais adequada.
Pedir recomendaçãoPRODUTIVIDADE E CAMPO LARGO
L100NX
Scanner de laser azul para captar rapidamente superfícies extensas e detalhes, com dados mais limpos em materiais brilhantes ou multimaterial.
PRECISÃO E DETALHE
LC15DX
Alternativa sem contacto à apalpação tátil para peças pequenas, frágeis e geometrias complexas onde a precisão é prioritária.
INSPEÇÃO DE FEATURES E SUPERFÍCIES
XC65DX e XC65DXLS
Três linhas laser captam features e superfícies numa única passagem, reduzindo reorientações e simplificando a programação.
ALTA RESOLUÇÃO E SUPERFÍCIES DIFÍCEIS
SLK25 VIVID
Scanner compacto de laser azul para detalhes finos, superfícies complexas, materiais escuros, transparentes ou muito refletores.
ARQUITETURA ATUAL
Ethernet é a tecnologia preferencial da LK para novas configurações
Maior interoperabilidade entre scanner, controlador e CMM, preservando o desempenho metrológico dos sensores. Para instalações SDI existentes, avaliamos compatibilidade e estratégia de migração.
APLICAÇÕES
Mais informação em menos tempo de inspeção
Peça-CAD
Mapas de desvio completos para validar geometria e processo.
Features complexas
Furos, arestas, pernos, superfícies livres e detalhes finos.
Materiais difíceis
Superfícies escuras, brilhantes, transparentes ou multimaterial.
Produção
Maior densidade de dados e tempos de ciclo reduzidos.
Instalação nova ou retrofit da sua CMM
Validamos compatibilidade, cabeçote, controlador, cablagem, software, calibração, formação e suporte técnico em Portugal e Espanha.