A crescente complexidade dos componentes eletrónicos está a transformar os requisitos de controlo de qualidade na indústria. Em áreas como EMS, SMT, PCBA, eletrónica, semicondutores e montagem de componentes, muitos defeitos críticos não são visíveis à superfície e só podem ser analisados com tecnologias de inspeção não destrutiva. A NM3D Ibérica destaca a importância dos sistemas de inspeção por raios X 110 kV da Unicomp Technology, desenvolvidos para apoiar fabricantes e equipas de qualidade na análise rápida, precisa e repetível de componentes eletrónicos e subconjuntos industriais. Esta tecnologia permite observar internamente soldaduras, ligações, componentes encapsulados, circuitos, terminais, semicondutores e placas eletrónicas, ajudando a identificar defeitos antes que estes avancem para fases posteriores da produção.
Contexto e desafio
Na produção eletrónica moderna, os componentes são cada vez mais pequenos, densos e complexos. BGAs, QFNs, CSPs, Flip Chips, LEDs, conectores, módulos eletrónicos e semicondutores exigem métodos de inspeção capazes de revelar aquilo que não pode ser avaliado apenas por inspeção visual. A inspeção X-ray permite analisar o interior da montagem sem destruir o produto, tornando-se uma ferramenta essencial para controlo de qualidade em linhas SMT, inspeção de PCBAs, validação de soldaduras BGA, QFN e CSP, análise de voids em solda, inspeção de Flip Chip e semicondutores, análise de wire bonding, controlo de conectores e terminais, inspeção de módulos eletrónicos, análise de cabos e ligações, e validação de componentes encapsulados. Para fabricantes de eletrónica, esta abordagem permite reduzir retrabalho, acelerar a deteção de defeitos e aumentar a confiança no processo produtivo.
A solução ou tecnologia
O equipamento X-ray 110 kV da Unicomp foi desenvolvido para responder a aplicações onde é necessário combinar boa penetração, elevada resolução e estabilidade de imagem. Esta capacidade é particularmente importante em componentes eletrónicos com diferentes densidades, multicamadas, encapsulamentos, soldaduras ocultas ou zonas internas de difícil acesso. Com uma fonte de raios X 110 kV, o sistema permite analisar componentes mais exigentes, mantendo a capacidade de obter imagens detalhadas para controlo técnico e análise de defeitos. Uma das características de destaque é a capacidade de inspeção oblíqua de alto ângulo até 50°, especialmente relevante quando é necessário observar defeitos que podem não ser evidentes numa vista vertical. Ao inclinar o ângulo de inspeção, o operador consegue analisar soldaduras, interfaces, terminais, ligações e componentes com maior profundidade visual, melhorando a deteção de voids em soldaduras, falta de molhagem, desalinhamento, pontes de solda, ligações incompletas, falhas em terminais, defeitos em BGA e QFN, e problemas em componentes encapsulados. Com uma área de carga de 600 × 520 mm, o equipamento permite acomodar placas, subconjuntos e componentes de dimensões relevantes para ambientes industriais, oferecendo flexibilidade para analisar diferentes formatos de PCBA, módulos eletrónicos, conjuntos de conectores, placas com múltiplos pontos de teste e pequenos subconjuntos industriais. O sistema suporta geração de relatórios de inspeção com um clique após medição automatizada, permitindo transformar rapidamente os resultados da análise em documentação técnica para registo de controlo de qualidade, validação de lotes, comparação entre amostras, documentação de defeitos, suporte a auditorias, comunicação com clientes ou fornecedores, e rastreabilidade de produção. A visualização em tempo real dos resultados através de MAPPING apresenta o estado da inspeção de forma clara e imediata: vermelho para NG (Not Good), verde para OK, e amarelo para pontos ainda não testados. A integração de iHDR e algoritmo de pseudo-cor permite melhorar a interpretação visual da imagem, destacando detalhes que poderiam ser menos evidentes numa visualização convencional. O equipamento permite uma programação rápida através da importação de ficheiros, facilitando a criação de rotinas de inspeção para placas e componentes com muitos pontos de controlo. A funcionalidade de personalização de algoritmos com inteligência artificial permite adaptar rapidamente o sistema a novos requisitos de inspeção, novos materiais ou novos tipos de defeito, apoiando a deteção e classificação de defeitos, aumentando a consistência do processo e reduzindo a dependência exclusiva da interpretação manual.
Aplicações industriais
A tecnologia X-ray 110 kV pode ser aplicada em diferentes fases do ciclo de produção eletrónica. Na inspeção de BGA, QFN, CSP e Flip Chip, componentes com soldaduras escondidas sob o encapsulamento, é possível analisar voids, pontes de solda, desalinhamento, falta de solda, curto-circuitos, esferas deformadas, distribuição irregular de solda e defeitos em ligações internas. Na análise de PCBA e SMT, a inspeção X-ray permite verificar zonas críticas sem desmontar a placa, aplicando-se na análise de soldaduras ocultas, componentes multicamada, vias e interligações, conectores, terminais, LEDs, componentes SMD e módulos eletrónicos. Na inspeção de semicondutores, encapsulamentos e leadframes, a tecnologia permite observar defeitos internos, ligações e estruturas que não são acessíveis externamente, apoiando a validação de wire bonding, encapsulamentos, leadframes, chips, interligações internas, cracks, voids e desalinhamentos. Para conectores, cabos e terminais, permite analisar crimping, posição dos condutores, falhas de contacto, cabos internos, conectores sobremoldados, terminais metálicos, soldaduras internas e desalinhamentos de montagem. Na análise de defeitos e investigação de falhas, a inspeção X-ray permite investigar o componente sem destruir a amostra, essencial para compreender se o problema está relacionado com soldadura, montagem, material, geometria, processo térmico, contaminação ou defeito interno.
Resultados e benefícios
Com inspeção oblíqua até 50°, área de carga de 600 × 520 mm, relatórios automatizados, MAPPING em tempo real, iHDR, pseudo-cor, programação por importação de ficheiros e personalização de algoritmos com IA, esta tecnologia ajuda a transformar o controlo de qualidade num processo mais rápido, rastreável e inteligente. As equipas reduzem tempo administrativo, minimizam erros manuais e garantem maior consistência na documentação. O MAPPING ajuda a reduzir confusão, melhorar a organização do trabalho e acelerar a tomada de decisão. A programação rápida permite reduzir o tempo de preparação, acelerar a introdução de novos produtos e melhorar a repetibilidade das inspeções. Mais do que detetar defeitos, permite compreender o processo, melhorar a produção e tomar decisões técnicas com maior confiança.
Como a NM3D pode ajudar
Na NM3D Ibérica, acompanhamos empresas industriais na implementação de tecnologias avançadas de inspeção, metrologia e controlo de qualidade. A inspeção X-ray 110 kV da Unicomp Technology representa uma solução eficaz para empresas que trabalham com EMS, SMT, PCBA, eletrónica, semicondutores, conectores, cabos e componentes críticos.
Quer avaliar esta solução na sua aplicação?
Pretende implementar inspeção X-ray 110 kV na sua linha de produção eletrónica? A NM3D Ibérica está disponível para apresentar as capacidades da tecnologia Unicomp Technology e apoiar a sua empresa na escolha da solução mais adequada às suas necessidades de controlo de qualidade.